O projekcie

W urządzeniach badawczych i technologicznych takich jak  SEM,STEM czy FIB nawet niewielkie zmienne pole magnetyczne rzędu nT lub drgania akustyczne mogą zakłócać bieg wiązki skanującej o kilkadziesiąt nanometrów. Jest to porównywalne z całkowitymi wymiarami nowoczesnych struktur elektronicznych.

Celem projektu jest opracowanie i implementacja skutecznych metod redukcji zakłóceń polegających raczej na uwzględnianiu wpływu zakłóceń na pracę ww. urządzeń niż na usuwaniu przyczyn zakłóceń. W rezultacie powstanie oprogramowanie komputerowe sterujące pracą urządzeń FIB, STEM, SEM w taki sposób aby badania lub procesy technologiczne prowadzone były w korzystnych warunkach i z uwzględnieniem wpływu zakłóceń.