Eliminacja zakłóceń skanowania w aparaturze technologiczno-badawczej wykorzystującej wiązkę elektronową lub jonową

 

Opis projektu

Opis projektu

O jakich zakłóceniach mowa?

Większość operatorów mikroskopów SEM spotkała się zapewne z charakterystycznymi deformacjami obrazów w postaci postrzępionych krawędzi podobnych do tych poniżej: 

Często przyjmuje się, że zakłócenia te są spowodowane polem elektromagnetycznym pochodzacym np. od sieci zasilającej. Jest też możliwe, że ich przyczyną są drgania akustyczne (szum klimatyzatorów czy wentylatorów).

 
 

Używamy cookies i podobnych technologii m.in. w celu świadczenia usług i w celach statystycznych. Możesz określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w Twojej przeglądarce, w jej ustawieniach. Jeżeli wyrażasz zgodę na zapisywanie informacji zawartej w cookies, kliknij „Zamknij”. Jeżeli nie wyrażasz zgody – zmień ustawienia swojej przeglądarki. Więcej informacji znajdziesz w naszej Polityce cookies

Zamknij X